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LCD、fpd触控面板自动光学检测设备

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所在地: 上海
有效期至: 长期有效
最后更新: 2013-08-02 10:13
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公司基本资料信息
 
 
产品详细说明

上海凌亮光电科技有限公司专业提供AOI自动光学检测设备: 可广泛应用于PCB、LCD、触控面板、玻璃、LED芯片等产业。可以提供PCB外观检测机,玻璃外观检测机, 自动点灯检测机,LCD 自动光学检测,LCM 自动光学检测,CF AOI,Mura AOI,Burr Check,LCM API,框胶检测机,PI检测机,TP AOI等等

检测设备有:外观光学六面检测设备Exterior Multi-Side AOI;
保护玻璃自动光学检测设备 Cover Glass AOI;
LCM 来料检查机/ 最终成品检查机LCM AOI/ Final Test API;
触控玻璃表面外观检查机TP sensor surface AOI-After Cutting;
切割前 触控面板 玻璃检查机 Touch Panel AOI- Before Cutting;
彩色滤光片自动光学检测设备CF AOI;
TFT-LCD 制程缺陷自动复检设备CF ARM;
Mura 缺陷自动光学检测设备;
配向膜自动光学检测设备PI AOI;
框胶制程自动光学检测设备Seal AOI;
点灯检测设备LCD/LCM API;
In-Line OD/膜厚/色度自动量测设备;
毛边自动光学检测设备Burr Check;
偏光膜光学检测设备Polarizer AOI。

可以检测项目:制程缺陷——蚀刻异常、图形缺陷、线路open 、short,表面缺陷——表面脏污、表面刮伤,裂片缺陷——崩边、崩角;
适于LCD 彩色滤光片制程,如黑框(BM),RGB彩色膜、铟锡氧化物薄膜( ITO)、MVA、PS和INS等制程;
适于 TFT-LCD各制程,如黑框(BM)、RGB彩色膜、铟锡氧化物薄膜( ITO)、MVA、PS、INS 、PI、SEAL 及 Touch panel 等制程;
针对涂布后、曝光前所产生之Mura,同时亦能判别TFT-LCD Color Filter 全部制程后和Touch Panel、PI制程后之Mura;PI Shift、膜内Particle;
Au Shift / Miss、Seal Shift / Broken / Width、膜内Particle;
灰阶不均缺陷(Mura)、亮/暗点、亮/暗线;
OD量测 --- BM、膜厚量测 --- OC、PS、色度量测 --- R、G、B。

可检测缺陷:表面刮伤、锯齿、亮点、白点、油墨;IR孔亮点、溢墨、凹痕、凹点、油墨内污、边崩;暗点、亮线、暗线、黄框、显示不均;ITO架桥(断/缺少), 金属线路(开口/短路), ITO(蚀刻异常/电阻残留/短路), metal架桥(断线/缺少)、铝残留、刮伤、裂伤、粉尘;TAC scratch, foreign material, crumple, cross type defec。

(http://www.lingliangvision.com/)或来电(021-32301536,手机号:13817405842,14702146038  qq2396866872找张先生)咨询,谢谢!
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